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炬光科技推出節(jié)距誤差測量系統(tǒng),助力高良率光互聯(lián)制造
發(fā)布日期:2026-08-13
隨著高精度、高通道數(shù)光纖陣列單元(FAU)需求的持續(xù)增長,傳統(tǒng)測量方案在測量精度、檢測效率及設備交付周期上面臨越來越大的挑戰(zhàn),已難以滿足快速發(fā)展的市場需求。依托在V型槽制造和光學對準工藝中的長期積累,炬光科技正式發(fā)布節(jié)距誤差測量系統(tǒng)產(chǎn)品(Pitch Error Measurement System)。這是一款面向高密度光通信器件嚴苛檢測需求設計的高精度自動化檢測平臺,可為V型槽、光纖陣列(FA)和MT連接器等應用提供完整的節(jié)距誤差檢測能力,幫助客戶實現(xiàn)更高的測量精度、更強的制程控制能力和更高的制造效率。
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炬光科技節(jié)距誤差測量系統(tǒng)
面向高密度光互聯(lián)的自動化精密檢測

賦能精密制造的自動化質量控制
不同于通用型計量設備,炬光科技為客戶提供光學裝配流程的完整解決方案,實現(xiàn)精準、快速、高良率的光學裝配工藝開發(fā),尤其適應正在飛速發(fā)展的光通信行業(yè)。使用炬光科技的節(jié)距誤差測量系統(tǒng),我們可幫助客戶實現(xiàn):
帶著新的解決方案,炬光科技正持續(xù)拓展面向光通信應用的集成化光子制造能力。通過將精密產(chǎn)品能力與智能檢測能力相結合,炬光科技能夠在跨越材料、器件、組件、裝備的行業(yè)全價值鏈中為客戶提供支持,幫助加速產(chǎn)品開發(fā)、提升制造良率,并推動下一代光通信技術更高效、更可規(guī)?;穆涞貞?。